著者名 正木 克明
論題 Si基盤上へのEr-Si-O結晶薄膜形成とその光学特性評価
学位授与年月日 2006.03.24
学位の種別 課程博士
学位の種類 博士(工学)
学位記番号 博甲第374号
論文審査委員 主査 木村 忠正


名取 晃子


中田 良平


小林 直樹


山口 浩一


一色 秀夫

論文要旨と審査結果要旨